在材料的生產(chǎn)、研發(fā)、測(cè)試中往往面臨著材料電阻及電阻率的測(cè)試，市場(chǎng)上的電阻率測(cè)試裝置千篇一律，但是針對(duì)技術(shù)的角度來(lái)看待這種電阻率的測(cè)試裝置時(shí)，卻有著失之毫厘差之千里的差距。不管是在常溫或者高溫環(huán)境下測(cè)量電阻率，首先解決的就是外界干擾問(wèn)題。

         即使市場(chǎng)上有著各種各樣的電阻率測(cè)試裝置，但是大多電阻率測(cè)試裝置當(dāng)電阻值達(dá)到10e10Ω時(shí)，所測(cè)量，的值度較低，包含太多干擾值。低阻值的材料電壓輸出時(shí)電流相對(duì)干擾電流較大，干擾電流可以忽略；當(dāng)材料電阻較大，材料兩端輸入電壓時(shí)，電流相對(duì)干擾電流而言相差不大，所以當(dāng)測(cè)量高阻值的材料時(shí)組成測(cè)試線路的材料必須采用更高阻值的材料，市場(chǎng)上大多達(dá)不到這個(gè)要求。

        同時(shí)，市場(chǎng)上測(cè)量電阻的設(shè)備大多采用伏安法，在伏安法中重要的環(huán)節(jié)莫過(guò)于一個(gè)的電流表，其次才是電壓源。華測(cè)生產(chǎn)的HEST-300系列表面體積電阻率測(cè)試儀采用了高的精度電流采集芯片、高穩(wěn)定度的電壓源，和的屏蔽線路。使得屏蔽效果較之前的同類測(cè)試設(shè)備大大提高。同時(shí)采用數(shù)字化的處理方式，用熒光屏取代以往的數(shù)碼管，可同時(shí)直接顯示電阻值、電流值、電阻率值。而且設(shè)備也可用于測(cè)試微電流。配置不同的測(cè)試夾具，可測(cè)量固體材料、液體材料、膏體材料、粉體材料。